Коротковолновой рентгеновский дифрактометр для измерения твердости металлических материалов

Дифрактометр рентгеновских лучей короткой длины волны для измерения твердости металлических материалов

▇ Легкие сплавы и их обработка

▇ Структурная прочность металлических деталей

▇ Стальная листвая прокатка

▇ Керамические материалы и их обработка

▇ Кремниевые материалы и их обработка

▇ Археология и идентификация исторических памятников

▇ Электростанция

▇ И, определяемая кристаллографическим дифракционным анализом внутреннего материала, без разрушения образца или детали.

Наша технология

Кристаллография играет фундаментальную роль в науке и технике XX века. Она также способствует появлению и развитию методов и инструментов кристаллографического дифракционного анализа, таких как рентгеновская дифракция, и способствует развитию науки и техники о твердых телах. Она также широко используется в фундаментальных исследованиях и материаловедении. Инженерия, поверхностная инженерия, химическая инженерия, машиностроение и другие области.
Мы много лет уделяем большое внимание, используя сильную проникающую способность рентгеновских лучей коротких волн, основываясь на принципе "волновой и частичной двойственности" света, полагаясь на инновационный оптический путь, уникальную технологию монохроматизации рентгеновских лучей, передовые технологии механического и электронного управления. Технология и новое аналитическое программное обеспечение для расчетов решают инженерные проблемы неразрушающего контроля и анализа кристаллической структуры детали или внутреннего материала образца и ее изменений (например, внутреннего напряжения, внутренней фазы, внутренней текстуры и т. д.). TPXRD - 1000 рентгеновский дифрактометр коротких волн, который мы создали, обеспечивает неразрушающее решение для анализа внутреннего напряжения, внутренней фазы, внутренней текстуры и распределения деталей или образцов.
▇ Погрешность измерения расстояния между плоскостями (111) кристалла стандарта алюминиевого порошка составляет менее ±0.0006 ?;